19. ESD-Forum 2026 (Dresden)

Eingeladener Vortrag:

• Real Time and Vectorial Characterization of Intense Electric Field using an Electro-Optical Probe 
  
  G. Gaborit – Université Savoie-Mont-Blanc, Y. Immig, G. Chevrier-Gros, L. Duvillaret – KAPTEOS, A. Zouaghi – Ecole Centrale de Lyon, E. Dumont – SNCF Réseau
• 3G-Magnetix 
  
  O. Kompanets, D. Kultys – Hoffmann-von-Fallersleben Gymnasium, Braunschweig
  Preisträger Bundeswettbewerb „Jugend forscht“ 2026

Prämierte Vorträge des EOS/ESD Symposiums 2025:

• In-situ-Messung von ESD-Strömen in einer Pick-and- Place-Maschine 
  
  E. Merkel – Infineon Technologies AG, H. Wolf, H. Gieser – Fraunhofer EMFT
• Einfluss von TVS-Eigenschaften und Leiterplattenentwurf auf die ESD-Festigkeit auf Systemebene von USB-C SuperSpeed-Datenleitungen 
  
  S. Holland, N. Lotfi, M. Pilaski, B. Laue, S. Seider – Nexperia Germany GmbH

Sitzung 1: Passive Bauelemente und Grundlagen

• Scalable ESD Modeling of Non-Linear Multilayer Ceramic Capacitors for System-Level ESD 
  
  K. E. Ginting – University of Technology Graz / Christian Doppler Laboratory, M. Ammer, F. zur Nieden – Infineon Technologies AG
• Gefährdung passiver SMD-Bauelemente durch ESD? - Tragen passive Bauelemente zu ESD beim Bestücken bei? 
  
  P. Jacob – Jacob Engineering
• Pikosekunden-Pulserzeugung für ESD-Tests auf Die-Ebene 
  
  C. Herpers, H. Wolf – Fraunhofer EMFT, A. Hagelauer – Technische Universität München

Sitzung 2: Messtechnik

• Widerstandsmessungen – ganz einfach!? 
  
  W. Stadler, R. Gärtner – Gärtner & Stadler ESD Consulting GmbH & Co. KG, K. Esmark, T. Lutz, F. zur Nieden, L. Zeitlhöfler – Infineon Technologies AG, P. Seppäle – Premix Oy, T. Viheriäkoski – Cascade Metrology Oy
• ESD-Detektion mit Antennen-Oszilloskop Kombinationen 
  
  M. Chefai, F. zur Nieden, L. Zeitlhöfler – Infineon Technologies AG

Sitzung 3: Kontrollprogramme und Schutzmaßnahmen I

• ESD-Bodensysteme im Zielkonflikt zwischen Ableitfähigkeit und Personenschutz – Einfluss normativer Prüfverfahren auf die Bewertung 
  
  H.-P. Brandt – ESD Nord, J. Thürmer – EPA-Design und Control
• Vereinfachte Validierung von ESD-Kontrollelementen 
  
  J. Thürmer – EPA-Design und Control, C. Hinz – Stat-X Deutschland GmbH

Sitzung 4: Kontrollprogramme und Schutzmaßnahmen II

• ESD Risk Assessment of Test Pads 
  
  K.T. Kaschani, S. Busse, K. Donat, N. Glania, W. Hausser, A. Kaiser, M. Keil, M. Kurban, C. Silber – Robert Bosch GmbH
• Risikobewertungen von Prozessen mit Leiterplatten 
  
  K. Esmark, T. Lutz, F. zur Nieden, L. Zeitlhöfler – Infineon Technologies AG, S. Neubert – AUMOVIO Germany GmbH, R. Gärtner, W. Stadler – Gärtner & Stadler ESD Consulting GmbH & Co. KG

Sitzung 5: Schutzelemente auf Bauteil- und Systemebene

• Slew-Rate Triggered Noise-Resistant Adaptive Clamp Circuit 
  
  K.T. Kaschani – Robert Bosch GmbH
• Co-Design for ESD on System-Level (SEED) – Automotive ASIC Case-Study Considering Unpowered and Powered State 
  
  H. Lohmeyer – Robert Bosch GmbH
• Influence of Ionization Systems on ESD-Induced Coupling Effects in the Packaging Industry 
  
  S. Sridharan Kanchana – SMC Deutschland GmbH

Sitzung 6: Siehe „Prämierte Vorträge des EOSESD Symposiums 2025”

Sitzung 7: Schutzelemente und -maßnahmen auf Systemebene

• ESD Protection and ESD Simulation - Automotive Interfaces 
  
  S. Bub – Nexperia Germany GmbH
• Überspannungen auf Systemebene - Eine neue Richtlinie zur Diagnose und Vermeidung von Überspannungen in elektronischen Systemen 
  
  P. Jacob – Jacob Engineering